芯片測試分為哪幾類？

發布時間：2022-08-29 22:10:41 作者：學術小編 來源：m.1888yd.cn

芯片測試 分為如下幾類： 1. WAT：Wafer AcceptanceTest，wafer level 的管芯或結構 測試 ； 2. CP：chip probing，wafer level 的電路 測試 含功能； 3. FT：Final Test，device level 的電路 測試 含功能。

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